一、主要特點(diǎn)
?　　　電阻測(cè)量范圍：1×104Ω ～1×1018Ω；
?　　　支持固體、液體、粉體和其他特殊定制電極測(cè)試；
?　　　電流測(cè)量范圍： 2 ×10-4A ～1 ×10-16 A；
?　　　直接顯示電阻率；
?　　　體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高；
?　　　*的被測(cè)電阻、流過(guò)電阻和電阻率顯示，使操作測(cè)量更加方便；
?　　　性能穩(wěn)定、讀數(shù)方便；
?　　　既能測(cè)電阻又能測(cè)電流；
?　　　測(cè)試電壓有六種選擇DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V；
?　　　使用操作簡(jiǎn)便，在任何電阻量程和測(cè)試電壓下均直接讀顯示數(shù)字結(jié)果。
二、主要應(yīng)用范圍
　　材料高阻測(cè)試測(cè)量如防靜電產(chǎn)品（防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等）電阻值的檢測(cè)；
　　材料體電阻(率)和表面電阻(率)測(cè)量；
　　電化學(xué)和材料測(cè)試,以及物理,光學(xué)和材料研究；
　　微弱電流測(cè)量如光電效應(yīng)和器件暗電流測(cè)量?！　?

三、技術(shù)指標(biāo)
1.　 電阻測(cè)量范圍： 1×104Ω ～1×1018Ω，分為十個(gè)量程。
2.　 電流測(cè)量范圍為：2 ×10-4A ～1 ×10-16 A。
3.　 全數(shù)字液晶屏顯示。
4.　 準(zhǔn)確度: 準(zhǔn)確度優(yōu)于下表　

注意事項(xiàng)
儀器使用前請(qǐng)仔細(xì)閱讀以下內(nèi)容，否則將造成儀器損壞或電擊情況。
1.檢查儀器后面板電壓量程是否置于10V檔，電阻量程是否置于104檔。
2.將待測(cè)試樣平鋪在不保護(hù)電極正中央，然后用保護(hù)電極壓住樣品，再插入被保護(hù)電極（不保護(hù)電極、保護(hù)電極、被保護(hù)電極應(yīng)同軸且確認(rèn)電極之間無(wú)短路）。
4.測(cè)體積電阻時(shí)測(cè)試按鈕撥到Rv邊，測(cè)表面電阻時(shí)測(cè)試按鈕撥到Rs邊。
5.開(kāi)機(jī)量程置于104檔，從儀器后面板調(diào)電壓按鈕到所要求的測(cè)量電壓。
6.電流電阻量程按鈕從低檔位逐漸撥高檔，每撥一次停留1-2秒觀察顯示數(shù)字，當(dāng)被測(cè)電阻大于儀器測(cè)量量程時(shí)，電阻表顯示“1”，此時(shí)應(yīng)繼續(xù)將儀器撥到量程更高的位置。測(cè)量?jī)x器有顯示值時(shí)應(yīng)停下，在1min的電化時(shí)間后測(cè)量電阻，當(dāng)前的數(shù)字乘以檔次即是被測(cè)電阻。
7.測(cè)試完畢先將量程撥至104檔，然后將測(cè)量電壓撥至10V檔，*后將測(cè)試按鈕撥到中央位置后關(guān)閉電源，然后進(jìn)行下一次測(cè)試。
8.禁止將“RX”兩端短路，以免微電流放大器受大電流沖擊。
9.不得在測(cè)試過(guò)程中不要隨意改動(dòng)測(cè)量電壓，.測(cè)量時(shí)從低次檔逐漸撥往高次檔。
10.接通電源后，手指不能觸及高壓線的金屬部分，測(cè)試過(guò)程中不能觸摸微電流測(cè)試端。
11.嚴(yán)禁在試測(cè)過(guò)程隨意改變電壓量程及在通電過(guò)程中打開(kāi)主機(jī)，嚴(yán)禁電流電阻量程未在104檔及電壓在10V檔，更換試樣。

誤操作后果
ATI-212體積、表面電阻率測(cè)定儀是一臺(tái)能測(cè)量*電阻和非常微弱電流的精密儀器是因?yàn)闄C(jī)器內(nèi)有一個(gè)超高性能的靜電計(jì)放大器，盡管儀器有多種保護(hù)措施，這個(gè)超高性能的靜電放大器在以下這些不正確操作使用中均可能因過(guò)大電流沖擊、過(guò)電壓或放電等**損壞或降低其測(cè)量精度與性能。

測(cè)試過(guò)程
不正確的操作方式
后果

開(kāi)機(jī)前
沒(méi)有將電壓撥至10V，電阻電流量程檔撥至104
過(guò)電流沖擊造成儀器放大器過(guò)電流而損壞

測(cè)試過(guò)程
隨意調(diào)節(jié)后面板電壓量程而改變測(cè)試電壓
過(guò)電流或反向放電沖擊造成儀器過(guò)電流而損壞
測(cè)試過(guò)程
改變屏蔽箱上體面電阻，表面電測(cè)測(cè)試開(kāi)關(guān)
過(guò)電流或反向放電沖擊造成儀器過(guò)電流而損壞

測(cè)試過(guò)程

測(cè)試電壓過(guò)高，導(dǎo)致測(cè)試材料擊穿
過(guò)電流或反向放電沖擊造成儀器過(guò)電流而損壞或測(cè)量性能降低

測(cè)試過(guò)程

微電流測(cè)量線與高壓線短路
過(guò)電流或反向放電沖擊造成儀器過(guò)電流而損壞或測(cè)量性能降低

測(cè)試完成
未將電壓量程撥至10V，電阻電流量程檔撥至104進(jìn)行關(guān)機(jī)。
過(guò)電流或反向放電沖擊造成儀器過(guò)電流而損壞或測(cè)量性能降低