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  • 高溫體積表面電阻率測(cè)試儀適用標(biāo)準(zhǔn):GB/T 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗(yàn)方法》;EN 1149-1-1995 《護(hù)服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》;GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》(與標(biāo)準(zhǔn)IEC93-1980等效);FZ/T 64013-2008 《靜電植絨毛絨》;

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    產(chǎn)品價(jià)格:面議
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2024-12-17
  • 表面體積電阻率檢測(cè)儀符合標(biāo)準(zhǔn):GB/T 1410-2006《 固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》 ASTM D257-99《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》 GB/T 10581-2006 《絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗(yàn)方法》

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    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2024-12-17
  • 表面電阻率測(cè)定儀LST-121絕緣材料體積表面電阻率測(cè)試儀可用于測(cè)量各種織物、服裝以及其他絕緣材料的表面比電阻(表面電阻率)和體積比電阻(體積電阻率),從而反映試驗(yàn)材料的帶靜電性能。

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    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2024-12-17
  • ATI-212EVA體積電阻率測(cè)試儀所有測(cè)試電壓(100/250/500/1000V) 測(cè)試時(shí)電阻結(jié)果直讀,免去老式高阻計(jì)在不同測(cè)試電壓下或不同量程時(shí)要乘以系數(shù)等使用不便的麻煩,使測(cè)量超高電阻就如用萬用表測(cè)量普通電阻樣簡(jiǎn)便。既能測(cè)超高電阻又能測(cè)微電流

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    更新日期:2024-12-17
  • 表面體積電阻率測(cè)試儀(GBT1410)采用三電極法對(duì)試樣進(jìn)行測(cè)試,其試驗(yàn)裝置主要有平板式電極裝置和高阻計(jì)兩部分組成?;驹硎菍?duì)試樣加入不同擋位的直流電壓,流經(jīng)試樣的微弱電流用標(biāo)準(zhǔn)電阻取樣放大后,從高阻計(jì)上讀出。數(shù)字直接顯示出電阻值,精度高、顯示迅速、穩(wěn)定性好、讀數(shù)方便。

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    更新日期:2024-12-17
  • ATI-212型體積表面電阻率測(cè)試儀(GBT1410)本儀器既可測(cè)量高電阻,又可測(cè)微電流。采用了美國(guó)Intel公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕準(zhǔn)確度高。數(shù)字液晶直接顯示電阻值和電流。量限從1×104Ω ~1×1018 Ω,是目前國(guó)內(nèi)測(cè)量范圍寬,準(zhǔn)確度的數(shù)字超高阻測(cè)量?jī)x。

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    產(chǎn)品價(jià)格:面議
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2024-12-17
  • GBT1410-2006體積表面電阻率測(cè)定儀本儀器既可測(cè)量高電阻,又可測(cè)微電流。采用了美國(guó)公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。以雙3.1/2 位數(shù)字直接顯示電阻的高阻計(jì)和電流。是目前國(guó)內(nèi)測(cè)量范圍寬,準(zhǔn)確度的數(shù)字超高阻測(cè)量?jī)x。電流測(cè)量范圍為2×10-4 ~1×10-16A。機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓為100/250/500/1000V任意可調(diào)

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    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2024-12-17
  • 涂層(涂料)體積表面電阻率測(cè)試儀 既可測(cè)量高電阻,又可測(cè)微電流。采用了美國(guó)In公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。以雙3.1/2 位數(shù)字直接顯示電阻的高阻計(jì)和電流。量限從Ω,是目前國(guó)內(nèi)測(cè)量范圍寬,準(zhǔn)確度高的數(shù)字超高阻測(cè)量?jī)x。電流測(cè)量范圍為。機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓為100/250/500/1000V任意可調(diào)。

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    產(chǎn)品價(jià)格:面議
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2024-12-17
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