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高絕緣電阻測量儀

簡要描述:型高絕緣電阻測量儀是按照國家標準GB/T 1410-2006/IEC 60093:1980:《固體絕緣材料體電阻率和表面電阻率試驗方法》研制的多用途綜合測量裝置,它可以測試固體絕緣材料體電阻率和表面電阻率,也可單獨作為超高電阻計或微弱電流表使用。

  • 更新時間:2024-12-18
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詳細介紹

LST-122型(固體絕緣材料高絕緣電阻測量儀)!是按照國家標準GB/T 1410-2006/IEC 60093:1980:《固體絕緣材料體電阻率和表面電阻率試驗方法》研制的多用途綜合測量裝置,它可以測試固體絕緣材料體電阻率和表面電阻率,也可單獨作為超高電阻計或微弱電流表使用。

測試儀特增設雙窗口同步顯示測試結果(電阻率或表面電阻)及測試條件(電壓或電流)功能

高絕緣電阻測量儀器主要由主機、高壓測試臺等部分組成。主機主要由高壓電源、數(shù)控可編程放大器、高分辨率ADC、鍵盤輸入、顯示驅動及嵌入式單片機系統(tǒng)組成。高壓測試臺主要由標準環(huán)形三電極和連接線等組成!對于小面積高阻薄膜類樣品方阻測試可以選配小型方阻探頭。

器所有參數(shù)設定、功能轉換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入;具有零位、滿度自校功能;可自動/手動轉換量程,測試結果由數(shù)字表頭直接顯示。儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結構緊湊、測量簡便、讀數(shù)方便等特點。

本儀器適用于防靜電產品如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值的檢驗以及絕緣材料和電子電器產品的絕緣電阻測量。微弱電流測量如光電效應和器件暗電流測量。

二、技術參數(shù)

1. 測量范圍、分辨率測試電壓范圍UX: 0.1V ~1000V.

電阻測試范圍RX: 1×102Ω ~5×1018Ω,   分辨率1/2000,

電流測試范圍IX: 1.5× 10-3A ~ 10× 10-12A,分辨率1/2000。

體積電阻率測試范圍ρV: FV×102Ω-cm ~FV×1018Ω-cm,F(xiàn)V體電阻率修正系數(shù)1~99,默認標準三電極FV=23.76cm/h

表面電阻率測試范圍ρS: FS×102Ω/□~FS×1018Ω/□,F(xiàn)S表面電阻率修正系數(shù)1~99,默認標準三電極FS=34.55

2.電阻量程劃分(電阻率要乘以相應修正系數(shù)1~99)、測試條件及誤差等級

序號

量程

有效測量范圍

測試電壓

測試電流

誤差

1

103Ω-cm/□

0.100~1.000

1.00V

1.000~0.100 mA

±5% FSB

2

103Ω-cm/□

01.00~10.00

10.0V

1.000~0.100 mA

±3% FSB

 

3

103Ω-cm/□

010.0~450.0

100V

1.000~0.100 mA

4

106Ω-cm/□

0.450~4.500

500V

1.000~0.100 mA

5

106Ω-cm/□

04.50~50.00

500V

100.0~010.0μA

±5% FSB

6

106Ω-cm/□

050.0~500.0

500V

10.00~1.00μA

7

109Ω-cm/□

0.500~5.000

500V

1.000~0.100μA

8

109Ω-cm/□

05.00~50.00

500V

100.0~010.0 nA

 

±8%FSB

 

9

109Ω-cm/□

050.0~500.0

500V

10.00~01.00 nA

10

1012Ω-cm/□

0.500~5.000

500V

1.000~0.100 nA

11

1012Ω-cm/□

05.00~50.00

500V

100.0~010.0 pA

±10%FSB






3. 可測半導體材料尺寸(以標準電極為)

        徑:  測試臺直接測試方式 寬(W)×長(L)≥90mm×90mm,或直徑 Φ≥90mm

        度:  測試臺直接測試方式 厚度d≤2.5mm,   

4. 電源:

功耗:主機< 15W

輸入: 220V±10%   50Hz

5. 本儀器工作條件為:

    度:   0~35℃

相對濕度:   ≤60%

工作室內應無強電磁場干擾,不與高頻設備共用電源。

6. 外形尺寸:

      機:  320mm(長)×320 mm(寬)×135mm(高)

高壓測試臺:  Φ=100mm(底座直徑)×80 mm(高)


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